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《科技》愛德萬推新款記憶體測試系統,拓展5G市場需求

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半導體測試設備大廠愛德萬測試(Advantest)宣布推出新款T5851 STM16G記憶體測試系統,專用於評估包括UFS3.0通用快閃記憶體和PCIe Gen 4 NVMe固態硬碟(SSD)等高速協議NAND Flash,預期這兩種裝置在5G通信市場的需求量將會非常大。

 移動和汽車通信市場正在蓬勃發展。據估計,智慧型手機中所有的NAND Flash很快都將使用高速串行協議介面控制器,如PCIe和UFS,其中大部分將需要系統級測試(SLT)。此外,UFS記憶體模組的出貨量預計將在未來3年內增至近3倍,並超越目前的市場領導者嵌入式多媒體卡(eMMC)。市場研究公司IHS Markit指出,到2021年內建eMMC、UFS等儲存裝置的智慧型手機出貨量將超過8億台。

 新型T5851 STM16G系統的多協議架構使其適合使用在工程和大量生產的環境中,測試所有帶閘球陣列封裝(BGA)或平面網格陣列封裝(LGA)的固態硬碟。使用單一共用平台可降低部署風險,同時系統的模塊化可升級性則可提高使用者的投資回報。

 愛德萬測試指出,通用且可擴展的平台具有測試多協議NAND設備的多功能性,速度高達16 Gbps。該系統的tester-per-DUT架構支援並行多達768個設備的快速SLT所需的測試流程。

 T5851 STM16G的配置和性能可針對任何一代設備進行優化。愛德萬測試的FutureSuite軟體確保新測試機台可以輕鬆與T5800產品系列的所有其他產品整合。新的記憶體測試系統有許多額外的好處,它可以與愛德萬測試的M6243或M6244自動化分類機結合使用,建構一個開機即用的整套測試單元;它具有液體冷卻系統進行可靠的熱管理;並提供絕佳的可靠性。T5851 STM16G測試系統預計在2019年第二季度開始交貨。(新聞來源:工商即時 涂志豪報導)